計(jì)數(shù)法是用直接統(tǒng)計(jì)不同粒度顆粒個(gè)數(shù)的方法確定物料的粒度組成，可分為間接法和直接法兩類。

所謂間接法，是對(duì)顆粒的圖像進(jìn)行測量和統(tǒng)計(jì)，故又稱為圖像法，包括從利用宏觀放大鏡和宏觀照相術(shù)到利用光學(xué)和電子顯微鏡以及電子探針測定，圖像與實(shí)物的比例從縮小100倍到放大105倍。

直接法是對(duì)實(shí)物顆粒進(jìn)行直接測量和統(tǒng)計(jì)，可進(jìn)一步分為機(jī)械計(jì)數(shù)法和場干擾法兩類。場干擾法的基本原理是利用固體顆粒穿過某一物理場時(shí)導(dǎo)致場強(qiáng)變化，借助于輸出的脈沖訊號(hào)統(tǒng)計(jì)不同粒度顆粒的數(shù)量，屬于這一類的有一系列現(xiàn)代粒度檢測儀，如激光粒度測定儀和庫爾特公司制造的利用電場干擾原理設(shè)計(jì)的庫爾特計(jì)數(shù)儀。

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